Metodoloxía de proba e depuración de interconexións eléctricas e subsistemas no circuíto integrado ou na placa especificada polo estándar IEEE 1149.
Categoría Gramatical:
locución substantiva feminina (axencia de seguros)
Sinónimos:
análise da periferia
Información complementaria:
Foi desenvolvida pola industria electrónica europea (BT, GEC/Marconi, Philips and Siemens) en 1985 e finalmente normalizada polo IEEE en 1990 baixo a norma 1149 titulada Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. A partir deste momento pasouse a coñecer polo acrónimo do grupo de desenvolvemento, JTAG (Joint Test Action Group).
Na versión de 1994 incorpora a linguaxe de definición BSDL (Boundary Scan Description Language) que define o contido lóxico dun dispositivo compatible con este estándar. Foi adoptado pola industria electrónica de todo o mundo e actualmente o estándar atópase na súa versión 1149.7.
Ver tamén:
Joint Test Action Group
